本文围绕武汉长盈通光电技术股份有限公司申请的一项关于测量双包层增益光纤光致暗化效应的专利展开，介绍了专利的基本信息、具体内容以及该公司的相关情况。
据金融界2025年4月5日消息，国家知识产权局信息表明，武汉长盈通光电技术股份有限公司提出了一项名为“用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法”的专利申请，其公开号为CN 119756784 A，申请日期为2024年12月。
从专利摘要来看，此发明所提供的用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法，属于特种光纤领域。具体而言，首先会获取不同长度的双包层增益光纤在特定条件下的功率损耗数据，接着搭建光致暗化效应的模型。之后对每条光纤的功率变化进行处理，将消除长度影响后的数据进行归一化处理，并且设立目标函数，随后进行模型参数优化，以此获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表。利用这个模型计算待测光纤在预设波段的功率在光致暗化前后的变化百分比，再把测量结果与参考数据进行比较，要是差值小于误差阈值，就将其视为待测光纤的有效测量结果。该发明通过一系列系统化的步骤，提高了数据处理的精确度，进而提升了测量双包层增益光纤的光致暗化效应的准确性和可靠性。
根据天眼查资料，武汉长盈通光电技术股份有限公司于2010年成立，位于武汉市，是一家主要从事计算机、通信和其他电子设备制造业的企业。企业注册资本达12237.4426万人民币，实缴资本为2628.1万人民币。通过天眼查大数据分析可知，武汉长盈通光电技术股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目88次。在财产线索方面，有商标信息7条，专利信息182条，此外企业还拥有行政许可32个。
武汉长盈通光电技术股份有限公司申请的测量双包层增益光纤光致暗化效应的专利，阐述了专利的申请信息、具体测量方法和优势，还介绍了该公司的基本情况，展现了该公司在技术创新和企业运营方面的成果。
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