关注!FEI公司“电子衍射的方法和系统”专利申请信息公开,2024年FEI公司申请“电子衍射方法与系统”专利,2025年信息公开

金融界在2025年4月1日公布的国家知识产权局信息,即FEI公司在2024年9月申请了“电子衍射的方法和系统”专利,并对该专利的摘要内容进行了阐述。

据金融界2025年4月1日发布的消息,国家知识产权局披露了一则重要信息。FEI公司在2024年9月提交了一项名为“电子衍射的方法和系统”的专利申请,其公开号为CN 119738429 A。

从该专利的摘要来看,此项公开内容聚焦于电子衍射的方法和系统。具体而言,有一种用于产生电子衍射图案的方法。该方法首先会引导电子束入射到样品之上,接着借助具备像素阵列的粒子检测器,对从样品散射出来的电子进行检测。

在检测过程中,针对像素处每一个检测到的电子,都会测量一个与该检测到的电子的能量成比例的能量值。随后,每个检测到的电子所测量得到的能量值,以及检测到该电子的像素的标识符,都会被发送至处理设备。

处理设备会运用能量相关函数,来计算源自每个所测量的能量值的能量加权贡献值。这里的能量相关函数会产生随电子能量变化的能量加权贡献值。最后,利用与每个像素标识符相关联的像素位置,以及能量加权贡献值,进而生成能量加权电子衍射图案。

本文介绍了FEI公司在2024年9月申请的“电子衍射的方法和系统”专利相关信息,包括申请时间、公开号,还详细阐述了专利摘要中产生电子衍射图案的具体方法,让读者对该专利有了初步了解。

原创文章,作者:东海凝丝,如若转载,请注明出处:https://www.gouwuzhinan.com/archives/48650.html

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